Dosimetric characterization of LiF thin films for soft X-rays using the TSEE technique

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1997
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4th MEETING ON NUCLEAR APPLICATIONS, ENCONTRO NACIONAL DE APLICACOES NUCLEARES
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ROCHA, F.D.G.; CALDAS, L.V.E.; MAURICIO, C.L.P.; MAURICIO, M.H.P. Dosimetric characterization of LiF thin films for soft X-rays using the TSEE technique. In: 4th MEETING ON NUCLEAR APPLICATIONS, ENCONTRO NACIONAL DE APLICACOES NUCLEARES, August 18-22, 1997, Pocos de Caldas, MG. p. 143-145. Disponível em: http://repositorio.ipen.br/handle/123456789/12105. Acesso em: 28 Mar 2024.
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