Study of defects in silicon by means of perturbed angular gamma-gamma correlation spectroscopy

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2005
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INTERNATIONAL NUCLEAR ATLANTIC CONFERENCE; ENCONTRO NACIONAL DE APLICACOES NUCLEARES, 7th
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CORDEIRO, M.R.; CARBONARI, A.W.; SAXENA, R.N. Study of defects in silicon by means of perturbed angular gamma-gamma correlation spectroscopy. In: INTERNATIONAL NUCLEAR ATLANTIC CONFERENCE; ENCONTRO NACIONAL DE APLICACOES NUCLEARES, 7th, ago. 28 - set. 2, 2005, Santos, SP. Anais... Disponível em: http://repositorio.ipen.br/handle/123456789/17587. Acesso em: 29 Mar 2024.
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