Tecnicas de preparacao de amostras metalicas para microscopia eletronica de transmissao para estudos de deformacao 'in situ'

Carregando...
Imagem de Miniatura
Data
Data de publicação:
1987
Orientador
Título da Revista
ISSN da Revista
Título do Volume
É parte de
É parte de
É parte de
É parte de
11o. COLOQUIO DA SOCIEDADE BRASILEIRA DE MICROSCOPIA ELETRONICA
Exportar
Mendeley
Projetos de Pesquisa
Unidades Organizacionais
Fascículo

Como referenciar
ALARCON, O.; NAZAR, A.M.; MONTEIRO, W.A. Tecnicas de preparacao de amostras metalicas para microscopia eletronica de transmissao para estudos de deformacao 'in situ'. In: 11o. COLOQUIO DA SOCIEDADE BRASILEIRA DE MICROSCOPIA ELETRONICA, 1-3 de setembro, 1987, Caxambu, MG. Disponível em: http://repositorio.ipen.br/handle/123456789/19742. Acesso em: 25 Apr 2024.
Esta referência é gerada automaticamente de acordo com as normas do estilo IPEN/SP (ABNT NBR 6023) e recomenda-se uma verificação final e ajustes caso necessário.

Agência de fomento