Size-strain analysis in RE-doped KY3F10 fluorides using X-ray line profile analysis
Carregando...
Data
Data de publicação:
2014
Orientador
Título da Revista
ISSN da Revista
Título do Volume
É parte de
É parte de
É parte de
É parte de
WORKSHOP OF APPLIED CRYSTALLOGRAPHY TO MATERIALS SCIENCE AND ENGINEERING, 4th
Exportar
Como referenciar
ICHIKAWA, R.U.; MARTINEZ, L.G.; IMAKUMA, K.; LINHARES, H.M.S.M.D.; RANIERI, I.M.; TURRILLAS, X. Size-strain analysis in RE-doped KY3F10 fluorides using X-ray line profile analysis. In: WORKSHOP OF APPLIED CRYSTALLOGRAPHY TO MATERIALS SCIENCE AND ENGINEERING, 4th, May 23-25, 2014, Vitoria, ES. Anais... Disponível em: http://repositorio.ipen.br/handle/123456789/23729. Acesso em: 18 Apr 2024.
Esta referência é gerada automaticamente de acordo com as normas do estilo IPEN/SP (ABNT NBR 6023) e recomenda-se uma verificação final e ajustes caso necessário.