MARCELO DAMY DE SOUZA SANTOS
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Resumo IPEN-doc 07849 Influencia do ruido eletronico em sistemas de espectrometria de raios-X com diodos de Si1999 - MAGALHAES, R.R.; BUENO, C.C.; GONCALVES, J.A.C.; SANTOS, M.D.S.Resumo IPEN-doc 07802 Espectrometria de raios-X com diodos de Si1998 - MAGALHAES, R.R.; BUENO, C.C.; GONCALVES, J.A.C.; SANTOS, M.D.S.Artigo IPEN-doc 04948 Uso de fotodiodos de Si na deteccao de R-X1997 - BUENO, C.C.; SANTOS, M.D.S.; GONCALVES, J.A.C.; MAGALHAES, R.R.