Niklaus Ursus WetterSILVA, DANILO M. da2014-10-092014-10-092014-10-092014-10-092011SILVA, DANILO M. da. <b>Interferometria speckle com lasers de diodo multimodo para análise de materiais e dispositivo</b>. Orientador: Niklaus Ursus Wetter. 2011. 75 f. Dissertação (Mestrado) - Instituto de Pesquisas Energéticas e Nucleares - IPEN-CNEN/SP, São Paulo. DOI: <a href="https://dx.doi.org/10.11606/D.85.2011.tde-26082011-100013">10.11606/D.85.2011.tde-26082011-100013</a>. Disponível em: http://repositorio.ipen.br/handle/123456789/10004.http://repositorio.ipen.br/handle/123456789/10004Neste trabalho foi desenvolvido um novo método voltado para a caracterização de lentes térmicas em materiais fotônicos, utilizados como meios ativos no desenvolvimento de lasers. Este método baseia-se em interferometria por padrão de speckle eletrônico (ESPI), utilizando dois lasers de diodo multímodo sintonizados a diferentes freqüências. Com o ajuste desta diferença, foi possível escolher uma resolução apropriada para medirmos as variações geradas no raio de curvatura da frente de onda, relacionados ao efeito térmico. Para os nossos experimentos escolhemos uma amostra vítrea de aluminato de cálcio dopado com 4% de érbio; e potências de bombeio incidentes de até 1,76 mW do laser de bombeio. Os lasers de diodo foram sintonizados para ter um intervalo de contorno por volta de 120 m. Com o aumento da potência absorvida pela amostra, observamos a diminuição da curvatura da frente de onda incidente na CCD, devido ao aumento da potência da lente térmica gerada. Através de uma análise paraxial dos feixes, foi feita uma aproximação para obtermos os valores das lentes para cada configuração, apresentando comprimentos focais de 131,39 mm a 42,76 mm.75openAccessdiode-pumped solid state lasersinterferometrylensestemperature dependencewavelengthssensorsequipmentInterferometria speckle com lasers de diodo multimodo para análise de materiais e dispositivoSpeckle interforometry with multimode diode lasers for analisis of materials and devicesDissertação10.11606/D.85.2011.tde-26082011-100013