MAGALHAES, R.R.BUENO, C.C.GONCALVES, J.A.C.SANTOS, M.D.S.2014-11-192014-11-192015-04-012014-11-192014-11-192015-04-01MAGALHAES, R.R.; BUENO, C.C.; GONCALVES, J.A.C.; SANTOS, M.D.S. Espectrometria de raios-X com diodos de Si. In: REUNIAO DE TRABALHO SOBRE FISICA NUCLEAR NO BRASIL, 21., 8-12 set, 1998, Itatiaia, RJ. <b>Resumos...</b> p. 81-82. Disponível em: http://repositorio.ipen.br/handle/123456789/19435.http://repositorio.ipen.br/handle/123456789/1943581-82openAccessx-ray spectroscopysilicon diodesphotodiodesx-ray detectionResumo de eventos científicoshttps://orcid.org/0000-0002-8940-9544https://orcid.org/0000-0001-7881-7254