AMBROZIO FILHO, F.QUADROS, N.F.SILVA, A.M.T.2014-11-172014-11-182015-04-022014-11-172014-11-182015-04-02AMBROZIO FILHO, F.; QUADROS, N.F.; SILVA, A.M.T. Microscopia eletronica de varredura em ligas aluminiouranio. Aspectos morfologicos. In: 2rd CONGRESSO LATINO AMERICANO DE MICROSCOPIA ELETRONICA, Nov. 22-26, 1976, Santiago, Chile. Disponível em: http://repositorio.ipen.br/handle/123456789/18630.http://repositorio.ipen.br/handle/123456789/18630openAccessaluminium alloyselectron scanninguranium alloysTexto completo de evento