MAZZOCCHI, V.L.BALDOCHI, S.L.PARENTE, C.B.R.SANTILLI, C.V.PAIVA SANTOS, C.O.SHIMAMURA, K.FUKUDA, TKIMINAMI, C.S.EIRAS, J.A.PESSAN, L.A.TOMASI, R.2014-11-172014-11-182015-04-022014-11-172014-11-182015-04-02MAZZOCCHI, V.L.; BALDOCHI, S.L.; PARENTE, C.B.R.; SANTILLI, C.V.; PAIVA SANTOS, C.O.; SHIMAMURA, K.; FUKUDA, T. Analise pelo metodo de Rietveld de fluoretos laser ativos em diferentes temperaturas. In: KIMINAMI, C.S. (ed.); EIRAS, J.A. (ed.); PESSAN, L.A. (ed.); TOMASI, R. (ed.). In: CONGRESSO BRASILEIRO DE ENGENHARIA E CIENCIA DOS MATERIAIS, 14., 3-6 dez, 2000, Sao Pedro, SP. <b>Anais...</b> p. 1701-1708. DisponÃvel em: http://repositorio.ipen.br/handle/123456789/13402.http://repositorio.ipen.br/handle/123456789/134021701-1708openAccesslattice parameterstemperature dependencelithium fluoridesstrontium fluoridesaluminium fluoridescalcium fluoridescrystalscrystal dopingchromiumsodiumceriumx-ray diffractionlaser materialsAnalise pelo metodo de Rietveld de fluoretos laser ativos em diferentes temperaturasTexto completo de evento