SAMAD, R.E.VIEIRA JUNIOR, N.D.BALDOCHI, S.L.ZILIO, S.C.2014-11-172014-11-182015-04-012014-11-172014-11-182015-04-01SAMAD, R.E.; VIEIRA JUNIOR, N.D.; BALDOCHI, S.L.; ZILIO, S.C. Medida do indice de refracao nao-linear do cristal de BaLiF:Ni em 1,064 micrometros por meio da tecnica de Z-Scan para absorvedores lentos. In: 18o. ENCONTRO NACIONAL DE FISICA DA MATERIA CONDENSADA - OPTICA, 6-10 de junho, 1995, Caxambu, MG. p. 162-165. DisponÃvel em: http://repositorio.ipen.br/handle/123456789/19071.http://repositorio.ipen.br/handle/123456789/19071162-165openAccessbarium fluorideslithium fluoridesnickelrefractive indexnonlinear problemsMedida do indice de refracao nao-linear do cristal de BaLiF:Ni em 1,064 micrometros por meio da tecnica de Z-Scan para absorvedores lentosTexto completo de eventohttps://orcid.org/0000-0003-0092-9357https://orcid.org/0000-0001-7762-8961