MARTINEZ, L.G.RIELLA, H.G.IMAKUMA, K.MORIMOTO, N.I.2014-11-172014-11-182015-04-012014-11-172014-11-182015-04-01MARTINEZ, L.G.; RIELLA, H.G.; IMAKUMA, K.; MORIMOTO, N.I. Caracterizacao de materiais policristalinos atraves da determinacao do tamanho medio dos cristalinos por difracao de raios-x. In: SIMPOSIO CRISTALOGRAFIA E NOVOS MATERIAIS E 10th ENCONTRO DA SOCIEDADE BRASILEIRA DE CRISTALOGRAFIA, julho, 1988, Campinas, SP. DisponÃvel em: http://repositorio.ipen.br/handle/123456789/12977.http://repositorio.ipen.br/handle/123456789/12977openAccesspolycrystalsx-ray diffractionCaracterizacao de materiais policristalinos atraves da determinacao do tamanho medio dos cristalinos por difracao de raios-xTexto completo de eventohttps://orcid.org/0000-0003-0435-6082https://orcid.org/0000-0001-7707-7821