ALMEIDA FILHO, A. deBUSO, S.J.MONTEIRO, W.A.2014-11-172014-11-182015-04-022014-11-172014-11-182015-04-02ALMEIDA FILHO, A. de; BUSO, S.J.; MONTEIRO, W.A. Influencia da microestrutura na propriedade eletricas de ligas Al-Mg-Th e Al-Mg-Nb. In: CONGRESSO BRASILEIRO DE ENGENHARIA E CIENCIA DOS MATERIAIS, 19., 21-25 de novembro, 2010, Campos do Jordao, SP. <b>Anais...</b> p. 5001-5007. DisponÃvel em: http://repositorio.ipen.br/handle/123456789/17910.http://repositorio.ipen.br/handle/123456789/179105001-5007openAccessaluminium alloysmicrostructureelectric conductivityInfluencia da microestrutura na propriedade eletricas de ligas Al-Mg-Th e Al-Mg-NbTexto completo de evento