Luis Gallego MartinezICHIKAWA, RODRIGO U.2019-02-152019-02-152018ICHIKAWA, RODRIGO U. <b>Investigação da estrutura local e média de nanopartículas por técnicas de espalhamento e difração de raios X</b>. Orientador: Luis Gallego Martinez. 2018. 143 f. Tese (Doutorado em Tecnologia Nuclear) - Instituto de Pesquisas Energéticas e Nucleares - IPEN-CNEN/SP, São Paulo. DOI: <a href="https://dx.doi.org/10.11606/T.85.2018.tde-15062018-083316">10.11606/T.85.2018.tde-15062018-083316</a>. Disponível em: http://repositorio.ipen.br/handle/123456789/29592.http://repositorio.ipen.br/handle/123456789/29592Neste trabalho, a estrutura local e média de nanopartículas foi estudada utilizando-se métodos de espalhamento e difração de raios X. Os métodos utilizados foram: Análise da Função de Distribuição de Pares Atômicos (Atomic Pair Distribution Function Analysis, em inglês) para o estudo do ordenamento estrutural de curto alcance, Refinamento de Rietveld e Modelamento Total do Perfil de Difração de Pó para o estudo do ordenamento médio. Os materiais estudados foram: nanopartículas de KY3F10 dopadas com Tb, nanocubos núcleo-camada (core-shell, em inglês) de FeO-Fe3O4 e nanopartículas de ferritas de Mn-Zn. O trabalho teve como objetivo demonstrar como os métodos mencionados podem ser utilizados de forma complementar para fornecer informações de curto, médio e longo alcance usando-se dados de espalhamento e difração de raios X. Neste trabalho, ressalta-se a importância de cada método no estudo da estrutura cristalina e demonstra avanço e desenvolvimento de metodologias para a sua aplicação.143openAccessterbium isotopesfluoridesiron oxidesbarium oxidesmanganese oxidesnickel oxideszinc oxidesferritespowderscrystal structuresolid state physicsinteratomic forcesdistribution functionsscatteringx-ray diffractionelectronic structurenanoelectronicscharged particlespattern recognitionTese10.11606/T.85.2018.tde-15062018-083316