SCAPIN, V.O.SCAPIN, M.A.SALVADOR, V.L.R.LIMA, N.B.MITANI, S.E.SAMAD, R.E.2014-11-172014-11-182015-04-012014-11-172014-11-182015-04-01SCAPIN, V.O.; SCAPIN, M.A.; SALVADOR, V.L.R.; LIMA, N.B.; MITANI, S.E.; SAMAD, R.E. Aplicacao da Fluorescencia de Raios X (WDXRFS) para a determinacao da espessura de filmes finos. In: INTERNATIONAL NUCLEAR ATLANTIC CONFERENCE; NATIONAL MEETING ON NUCLEAR APPLICATIONS, 6th, Aug. 11-16, 2002, Rio de Janeiro, RJ. <b>Proceedings...</b> DisponÃvel em: http://repositorio.ipen.br/handle/123456789/17017.http://repositorio.ipen.br/handle/123456789/17017openAccessx-ray fluorescence analysisthin filmsnickelthicknessAplicacao da Fluorescencia de Raios X (WDXRFS) para a determinacao da espessura de filmes finosTexto completo de eventohttps://orcid.org/0000-0001-7762-8961https://orcid.org/0000-0002-6444-9224https://orcid.org/0000-0002-0606-4369