MAZZOCCHI, V.L.BALDOCHI, S.L.PARENTE, C.B.R.SANTILLI, C.V.PAIVA SANTOS, C.O.SHIMAMURA, K.FUKUDA, T2014-11-192014-11-192015-04-012014-11-192014-11-192015-04-01MAZZOCCHI, V.L.; BALDOCHI, S.L.; PARENTE, C.B.R.; SANTILLI, C.V.; PAIVA SANTOS, C.O.; SHIMAMURA, K.; FUKUDA, T. Analise pelo metodo de Rietveld dos fluoretos LiSrAlFsub(6) e LiCaAlFsub(6), puros e dopados, em diferentes temperaturas. In: REUNIAO DA SOCIEDADE BRASILEIRA DE CRISTALOGRAFIA, 15., 10-12 jul, 2000, Campinas, SP. <b>Resumos...</b> p. 1. DisponÃvel em: http://repositorio.ipen.br/handle/123456789/21802.http://repositorio.ipen.br/handle/123456789/218021openAccesslaser materialslithium fluoridesstrontium fluoridesaluminium fluoridescalcium fluoridesdoped materialschromiumceriumsodiumx-ray diffractionlattice parameterstemperature dependenceAnalise pelo metodo de Rietveld dos fluoretos LiSrAlFsub(6) e LiCaAlFsub(6), puros e dopados, em diferentes temperaturasResumo de eventos cientÃficos