MARTINEZ, L.G.ORLANDO, M.T.D.CORREA, H.P.S.OLIANI, W.L.OTAGURO, H.LIMA, L.F.C.P.PARRA, D.F.LUGAO, A.B.2014-11-192014-11-192015-04-012014-11-192014-11-192015-04-01MARTINEZ, L.G.; ORLANDO, M.T.D.; CORREA, H.P.S.; OLIANI, W.L.; OTAGURO, H.; LIMA, L.F.C.P.; PARRA, D.F.; LUGAO, A.B. Refinamento da estrutura cristalina de amostras de polipropileno isotáctico pelo método de Rietveld. In: REUNIÃO DA ASSOCIAÇÃO BRASILEIRA DE CRISTALOGRAFIA, 19., 8-11 de setembro, 2009, Belo Horizonte, MG. <b>Resumo...</b> Disponível em: http://repositorio.ipen.br/handle/123456789/22411.http://repositorio.ipen.br/handle/123456789/22411A estrutura cristalina de amostras de polipropileno isotáctico (iPP) foi estudada por meio do refinamento de dados de difração de raios X com fonte síncrotron, pelo método de Rietveld. As amostras, denominadas A (H210) e B (H803), foram cedidas pela empresa Braskem na forma de grãos com índice de fluidez 24 e 0,5 dg.min-1 e massa molar z-média 580.000 e 1.040.000 g.mol-1 , respectivamente. O índice de fluidez foi obtido usando um plastômetro Modular Melt Flow da CEAST, a 230° C com carga de 2,16 kg e a massa molar por análise de Cromatografia de Permeação em Gel (GPC) de alta temperatura. Os corpos de prova foram obtidos na forma de disco (e = 2 mm e Φ= 25 mm) por prensagem dos grãos a 190° C por 15 min (10 min sem pressão e 5 min com pressão de 8 MPa) seguida de resfriamento em água à temperatura ambiente. As medidas de difração de raios X foram obtidas com radiação síncrotron (D12A-XRD1 LNLS). O refinamento partiu do modelo estrutural proposto por Natta [1]: estrutura monoclínica e grupo espacial (C12/c). Os valores obtidos para o parâmetro de cela unitária da amostra A (H210) foram a = 6,872(1) Ǻ, b = 21,291(2) Ǻ, c = 6,777(2) Ǻ, β = 103,49(3)º e, para a amostra B (H803), a = 6,729(1) Ǻ, b = 20,830(1) Ǻ, c = 6,614(2) Ǻ e β = 103,52(3)º.openAccesssample preparationpolypropylenecrystallographyrefiningx-ray diffractionsynchrotronscrystal structureResumo de eventos científicoshttps://orcid.org/0000-0002-1737-3191https://orcid.org/0000-0002-7626-880Xhttps://orcid.org/0000-0001-7707-7821