SILVA, THIAGO R. daTOBIAS, CARMEN C.B.2016-04-112016-04-11SILVA, THIAGO R. da; TOBIAS, CARMEN C.B. Detecção e espectrometria de elétrons de conversão interna com diodos de Si. In: PROGRAMA INSTITUCIONAL DE BOLSAS DE INICIAÇÃO CIENTÍFICA, 13.; PROGRAMA DE BOLSAS E INICIAÇÃO CIENTÍFICA CNEN, 4., 29-30 de agosto, 2007, São Paulo, SP. <b>Resumo expandido...</b> Disponível em: http://repositorio.ipen.br/handle/123456789/26107.http://repositorio.ipen.br/handle/123456789/26107openAccessdetectionelectron spectroscopyinternal conversionsilicon diodescobalt 57cadmium 109barium 133Iniciação Científicahttps://orcid.org/0000-0001-7881-7254