Waldemar Alfredo MonteiroSANTOS, HAMILTA de O.2014-10-092014-10-092014-10-092014-10-091999SANTOS, HAMILTA de O. <b>Estudo de orientacoes cristalograficas de acos ao silicio utilizando tecnicas de difracao de raios X, difracao de eletrons e metodo ETCH PIT</b>. Orientador: Waldemar Alfredo Monteiro. 1999. 82 f. Dissertacao (Mestrado) - Instituto de Pesquisas Energeticas e Nucleares - IPEN/CNEN-SP, Sao Paulo. Disponível em: http://repositorio.ipen.br/handle/123456789/10783.http://repositorio.ipen.br/handle/123456789/1078382openAccessironsiliconsteelselectrical propertiesgrain sizegrain orientationmicrostructurecrystallographyscanning electron microscopyx-ray diffractionelectron diffractionDissertação