SOUSA, EDUARDO C.WETTER, NIKLAUS U.2016-04-292016-04-29SOUSA, EDUARDO C.; WETTER, NIKLAUS U. Caracterização de filmes finos anti-refletores. In: PROGRAMA INSTITUCIONAL DE BOLSAS DE INICIAÇÃO CIENTÍFICA, 10.; PROGRAMA DE BOLSAS E INICIAÇÃO CIENTÍFICA CNEN, 1., 17-18 de novembro, 2004, São Paulo, SP. <b>Resumo expandido...</b> p. 31-32. Disponível em: http://repositorio.ipen.br/handle/123456789/26221.http://repositorio.ipen.br/handle/123456789/2622131-32openAccessthin filmsreflectioncrystalssubstratesrare earthsnanoparticlesdoped materialsIniciação Científicahttps://orcid.org/0000-0002-9379-9530