PUTVINSKIS, R.MARTINEZ, L.G.CORREA, H.P.S.ORLANDO, M.T.D.2014-11-192014-11-192015-04-012014-11-192014-11-192015-04-01PUTVINSKIS, R.; MARTINEZ, L.G.; CORREA, H.P.S.; ORLANDO, M.T.D. Caracterizacao do supercondutor Hgsub(0.82)Resub(0.18)Basub(2)Casub(2)Cusub(3)Osub(8-'gamma') por difracao de raios X com aplicacao do metodo de Rietveld. In: REUNIAO ANUAL DE USUARIOS LNLS, 18., 18-19 de fevereiro, 2008, Campinas, SP. <b>Resumos...</b> p. 200. DisponÃvel em: http://repositorio.ipen.br/handle/123456789/19610.http://repositorio.ipen.br/handle/123456789/19610200openAccesssuperconductorsx-ray diffractioncrystallographycrystal structureCaracterizacao do supercondutor Hgsub(0.82)Resub(0.18)Basub(2)Casub(2)Cusub(3)Osub(8-'gamma') por difracao de raios X com aplicacao do metodo de RietveldResumo de eventos cientÃficoshttps://orcid.org/0000-0001-7707-7821