FONSECA, F.C.STEIL, M.C.VANNIER, R.N.MAIRESSE, G.BOIVIN, J.C.MUCCILLO, R.KIMINAMI, C.S.EIRAS, J.A.PESSAN, L.A.TOMASI, R.2014-11-172014-11-182015-04-022014-11-172014-11-182015-04-02FONSECA, F.C.; STEIL, M.C.; VANNIER, R.N.; MAIRESSE, G.; BOIVIN, J.C.; MUCCILLO, R. Influencia da microestrutura nas propriedades eletricas dos condutores ionicos a base de bismuto de composicao Bisub(26)Mosub(10-x)Wsub(x)Osub(69). In: KIMINAMI, C.S. (ed.); EIRAS, J.A. (ed.); PESSAN, L.A. (ed.); TOMASI, R. (ed.). In: CONGRESSO BRASILEIRO DE ENGENHARIA E CIENCIA DOS MATERIAIS, 14., 3-6 dez, 2000, Sao Pedro, SP. <b>Anais...</b> p. 7101-7109. Disponível em: http://repositorio.ipen.br/handle/123456789/13417.http://repositorio.ipen.br/handle/123456789/134177101-7109openAccessbismuth oxidesmolybdenum oxidestungsten oxidesmicrostructureelectrical propertiesionic conductivitycrystal-phase transformationsgrain sizeimpedancespectroscopyTexto completo de eventohttps://orcid.org/0000-0002-8598-279Xhttps://orcid.org/0000-0003-0708-2021