SILVA JUNIOR, I.A.XAVIER, M.SIQUEIRA, P.T.D.SORDI, G.A.A.POTIENS, M.P.A.2018-02-272018-02-27SILVA JUNIOR, I.A.; XAVIER, M.; SIQUEIRA, P.T.D.; SORDI, G.A.A.; POTIENS, M.P.A. Avaliação da uniformidade de fonte extensa de referência circular e aplicação de fatores de correção. In: CONGRESSO BRASILEIRO DE METROLOGIA, 9.; CONGRESSO INTERNACIONAL DE METROLOGIA MECANICA, 4.; CONGRESSO INTERNACIONAL DE METROLOGIA ELETRICA, 12.; CONGRESSO BRASILEIRO DE METROLOGIA DAS RADIAÇOES IONIZANTES, 4.; WORKSHOP DA REDE DE METROLOGIA QUIMICA DO INMETRO, 3.; CONGRESSO BRASILEIRO DE METROLOGIA OPTICA, 2., 26-29 de novembro, 2017, Fortaleza, CE. <b>Anais...</b> Rio de Janeiro, RJ: Sociedade Brasileira de Metrologia, 2017. p. 1-4. Disponível em: http://repositorio.ipen.br/handle/123456789/28586.http://repositorio.ipen.br/handle/123456789/28586Neste trabalho é avaliada a uniformidade de fontes extensas de referência circular, que ainda são bastante utilizadas no Brasil. Em trabalhos anteriores foram analisadas fontes extensas de referência retangular mostrando-se a importância da aplicação de fatores de correção na calibração de monitores de radiação. Agora é realizada uma transposição de métodos usados então, avaliando-se as uniformidades de fontes de referência circular e calculando-se os fatores de correção associados.1-4openAccessTexto completo de eventohttps://orcid.org/0000-0002-4049-6720