BUENO, C.C.GONCALVES, J.A.C.SANTOS, M.D.S.2014-11-172014-11-182015-04-022014-11-172014-11-182015-04-02BUENO, C.C.; GONCALVES, J.A.C.; SANTOS, M.D.S. Espectrometria de particulas carregadas com fotodiodos de Si. In: 3o. ENCONTRO NACIONAL DE APLICACOES NUCLEARES, 7-11 de agosto, 1995, Aguas de Lindoia, SP. p. 649-653. DisponÃvel em: http://repositorio.ipen.br/handle/123456789/12646.http://repositorio.ipen.br/handle/123456789/12646649-653openAccesssiliconphotodiodesparticlesx-ray detectionx-ray spectraradiation detectorsEspectrometria de particulas carregadas com fotodiodos de SiTexto completo de eventohttps://orcid.org/0000-0002-8940-9544https://orcid.org/0000-0001-7881-7254