PILLIS, M.F.CHIARAMONTE, T.JOSSE COURTY, C.LACROUTE, Y.CARDOSO, L.P.PATRIARCHE, G.SACILOTTI, M.2014-11-172014-11-182015-04-022014-11-172014-11-182015-04-02PILLIS, M.F.; CHIARAMONTE, T.; JOSSE COURTY, C.; LACROUTE, Y.; CARDOSO, L.P.; PATRIARCHE, G.; SACILOTTI, M. Caracterizacao de estruturas Ga-3D depositadas por MOCVD sobre substratos metalicos. In: ENCONTRO E EXPOSICAO BRASILEIRA DE TRATMENTOS DE SUPERFICIE, 12.; INTERFINISH LATINO-AMERICANO, 2., 9-11 de maio, 2006, Sao Paulo, SP. <b>Anais...</b> Disponível em: http://repositorio.ipen.br/handle/123456789/13779.http://repositorio.ipen.br/handle/123456789/13779openAccessgalliumthree-dimensional calculationschemical vapor depositionopticscoppertiniron alloysaluminium alloyschromium alloysscanning electron microscopyTexto completo de eventohttps://orcid.org/0000-0002-1423-871X