BARBIERI, CRISTINA B.SARKIS, JORGE E. de S.2018-03-052018-03-05BARBIERI, CRISTINA B.; SARKIS, JORGE E. de S. A importância da metrologia na análise forense ambiental: aplicação do ensaio duplicado para estimativa de incerteza de amostragem. In: CONGRESSO BRASILEIRO DE METROLOGIA, 9.; CONGRESSO INTERNACIONAL DE METROLOGIA MECANICA, 4.; CONGRESSO INTERNACIONAL DE METROLOGIA ELETRICA, 12.; CONGRESSO BRASILEIRO DE METROLOGIA DAS RADIAÇOES IONIZANTES, 4.; WORKSHOP DA REDE DE METROLOGIA QUIMICA DO INMETRO, 3.; CONGRESSO BRASILEIRO DE METROLOGIA OPTICA, 2., 26-29 de novembro, 2017, Fortaleza, CE. <b>Resumo...</b> Rio de Janeiro, RJ: Sociedade Brasileira de Metrologia, 2017. p. 65-65. Disponível em: http://repositorio.ipen.br/handle/123456789/28633.http://repositorio.ipen.br/handle/123456789/2863365-65openAccessenvironmentpollutionmetrologycrime detectiondata covariancesuncertainty principlesamplingResumo de eventos científicoshttps://orcid.org/0000-0002-6745-8185