VEIGA, S.M.B.VEIGA, M.M.CHAKLADER, A.C.D.BRESSIANI, J.C.2014-11-172014-11-182015-04-022014-11-172014-11-182015-04-02VEIGA, S.M.B.; VEIGA, M.M.; CHAKLADER, A.C.D.; BRESSIANI, J.C. Analise quantitativa por difracao de raios-x de alumina, carbeto de silicio e carbeto de zirconio em compositos ceramicos. In: 39o. CONGRESSO BRASILEIRO DE CERAMICA, 10-13 de junho, 1995, Aguas de Lindoia, SP. p. 900-905. DisponÃvel em: http://repositorio.ipen.br/handle/123456789/11905.http://repositorio.ipen.br/handle/123456789/11905900-905openAccessceramicscomposite materialsx-ray diffractionkaolinitecyanideszirconiumfluoritequantitative chemical analysisAnalise quantitativa por difracao de raios-x de alumina, carbeto de silicio e carbeto de zirconio em compositos ceramicosTexto completo de evento