PAZ, L.M.2014-11-172014-11-182015-04-012014-11-172014-11-182015-04-01PAZ, L.M. Dispositivo para analisis no dispersivo, por rayos X, em microscopios electronicos de barredura. In: 2rd CONGRESSO BRASILEIRO DE ENGENHARIA E CIENCIA DOS MATERIAIS, 11-15 dez, 1978, Rio de Janeiro, RJ, Brasil. DisponÃvel em: http://repositorio.ipen.br/handle/123456789/18570.http://repositorio.ipen.br/handle/123456789/18570openAccesscollimatorselectron microscopesexcitationoptical dispersionx radiationx-ray fluorescence analysisDispositivo para analisis no dispersivo, por rayos X, em microscopios electronicos de barreduraTexto completo de evento