SAIKI, M.LELLIS, L.O.2014-11-172014-11-182015-04-022014-11-172014-11-182015-04-02SAIKI, M.; LELLIS, L.O. Aplicacao do metodo de analise por ativacao a determinacao de impurezas em oxidos de terras raras produzidos no IPEN-CNEN/SP. In: 2o. CGEN, 23-26 de abril, 1988, Rio de Janeiro, RJ. DisponÃvel em: http://repositorio.ipen.br/handle/123456789/13037.http://repositorio.ipen.br/handle/123456789/13037neutron activation analysisrare earthsoxidesimpuritiesge semiconductor detectorsAplicacao do metodo de analise por ativacao a determinacao de impurezas em oxidos de terras raras produzidos no IPEN-CNEN/SPTexto completo de evento