Luis Gallego MartinezSILVA, ANDRÉ S.B. da2019-02-182019-02-182018SILVA, ANDRÉ S.B. da. <b>Desenvolvimento de ferramentas computacionais para análise de perfis de difração de raios X</b>. Orientador: Luis Gallego Martinez. 2018. 90 f. Dissertação (Mestrado em Tecnologia Nuclear) - Instituto de Pesquisas Energéticas e Nucleares - IPEN-CNEN/SP, São Paulo. DOI: <a href="https://dx.doi.org/10.11606/D.85.2018.tde-14062018-103718">10.11606/D.85.2018.tde-14062018-103718</a>. Disponível em: http://repositorio.ipen.br/handle/123456789/29633.http://repositorio.ipen.br/handle/123456789/29633Neste trabalho foi desenvolvido um conjunto de ferramentas computacionais, em linguagem de programação Python, para a análise de perfis de difração de raios X, tanto para o estudo quanto para obtenção dos valores microestruturais como tamanhos médios de cristalitos e microdeformações, através de dos métodos de: Scherrer, Single-Line, Williamson-Hall e Warren-Averbach. Para aplicar os métodos de análise de perfis, foram também implementados métodos de remoção da contribuição instrumental pelo método de Stokes e ajuste de funções, remoção de ruídos pelo método de Savitzky-Golay, correção da radiação de fundo pelo método de ajuste linear, correção do fator de Lorentz-Polarização e correção do dubleto Kalfa2 .90openAccessdebye-scherrer methoddiffraction methodspowdersstructural chemical analysisx-ray diffractionmonocrystalsshapepeakscrystalssizecrystallographymachine toolsdifferential equationsprogramming languagesDissertação10.11606/D.85.2018.tde-14062018-103718