SOUSA, EDUARDO C.RANIERI, IZILDA M.WETTER, NIKLAUS U.2014-07-152014-07-302014-07-152014-07-302005SOUSA, EDUARDO C.; RANIERI, IZILDA M.; WETTER, NIKLAUS U. Caracterizacao de filmes finos anti-refletores em cristais de YLF. <b>Boletim Técnico da Faculdade de Tecnologia de São Paulo</b>, v. 19, p. 14, 2005. Disponível em: http://repositorio.ipen.br/handle/123456789/5469.1518-9082http://repositorio.ipen.br/handle/123456789/546914openAccesssolid state lasersthin filmsantireflection coatingsCaracterizacao de filmes finos anti-refletores em cristais de YLFArtigo de periódico19https://orcid.org/0000-0002-9379-9530