RODRIGO UCHIDA ICHIKAWA
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Artigo IPEN-doc 27006 Study on the microstructure of UNS S32304 duplex steel submitted to heat-treatments2017 - GOULART, F.; ICHIKAWA, R.U.; TURRILLAS, X.; MARTINEZ, L.G.Duplex stainless steels are characterized by a good combination of mechanical properties and corrosion resistance. Due to the metastable equilibrium between the ferritic (α) and austenitic (γ) phases, significant changes in the microstructure of these steels may occur when subjected to temperatures higher than the ambient, degrading their properties. In this work, it was investigated the influence of heat treatments on the microstructure and mechanical properties of a duplex stainless steel UNS-S32304. The heat-treatments were performed at four temperatures (300°C, 600°C, 900°C and 1000°C) with two treatment times (1 h and 6 h) and two processes of cooling down (in air and water). The samples were studied by X-ray diffraction using Pawley method to determine the lattice parameters, mean crystallite sizes and microstrain for the two phases and compared to Vickers microhardness results.Resumo IPEN-doc 22331 Study of the microstructure in remelted zircaloy by synchrotron diffraction line profile analysis2014 - ICHIKAWA, RODRIGO U.; MARTINEZ, LUIS G.; PEREIRA, LUIZ A.T.; IMAKUMA, KENGO; TURRILLAS, XABIERResumo IPEN-doc 20631 Estimation of mean crystallite sizes of XRD standard reference materials produced at IPEN by XLPA2014 - MARTINEZ, LUIS G.; ICHIKAWA, RODRIGO U.; IMAKUMA, KENGO; TURRILLAS, XABIER; ORLANDO, MARCOS T.D.Dissertação IPEN-doc 19883 Aplicações do método Warren-Averbach de análise de perfis de difração2013 - ICHIKAWA, RODRIGO U.O objetivo deste trabalho foi desenvolver e implementar uma metodologia envolvendo a análise de perfis de difração de raios X (X-ray Line Profile Analysis - XLPA) para o estudo e determinação do tamanho médio de cristalitos e microdeformação em materiais. Para isto houve o desenvolvimento de um programa computacional para facilitar o tratamento dos picos presentes em um difratograma e realizar a deconvolução de perfis através do Método de Stokes para se corrigir a contribuição instrumental nos perfis de difração. Os métodos de XLPA de espaço real estudados e aplicados neste trabalho foram os métodos de Scherrer, Williamson-Hall e Single-Line (ou Linha Única) e o método de Warren-Averbach de espaço de Fourier. Além disso, utilizando-se um modelamento matemático foi possível calcular a distribuição de tamanhos de cristalitos para um caso isotrópico, onde considerou-se a distribuição log-normal e cristalitos com forma esférica. Foi possível demonstrar que a teoria proposta pode ser considerada como uma boa aproximação avaliando-se uma razão de dispersão. As metodologias descritas acima foram aplicadas em dois materiais distintos: na liga metálica Zircaloy-4 e em ZnO.