X-ray Rietveld analysis of pure and doped LiSAFsub(6) crystals at different temperatures
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2002
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CONGRESSO BRASILEIRO DE ENGENHARIA E CIENCIA DOS MATERIAIS, 15.
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MAZZOCCHI, V.L.; BALDOCHI, S.L.; PARENTE, C.B.R.; PAIVA SANTOS, C.O.; SANTILLI, C.V. X-ray Rietveld analysis of pure and doped LiSAFsub(6) crystals at different temperatures. In: CONGRESSO BRASILEIRO DE ENGENHARIA E CIENCIA DOS MATERIAIS, 15., 9-13 nov, 2002, Natal, RN. Resumos... Disponível em: http://repositorio.ipen.br/handle/123456789/20965. Acesso em: 09 May 2024.
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