Ablação seletiva de filme fino de TiN depositado sobre um substrato de WC

Página do item simplificado
dc.contributor.authorOLIVEIRA, EDUARDO S.
dc.contributor.authorSAMAD, RICARDO E.
dc.contributor.authorVIEIRA JUNIOR, NILSON D.
dc.contributor.authorROSSI, WAGNER de
dc.coverageNacionalpt_BR
dc.creator.eventoABM WEEK; CONGRESSO ANUAL DA ABM, 71.; ENCONTRO NACIONAL DE ESTUDANTES DE ENGENHARIA METALURGICA, DE MATERIAIS E DE MINAS, 16.pt_BR
dc.date.accessioned2017-07-13T13:23:05Z
dc.date.available2017-07-13T13:23:05Z
dc.date.evento26-30 de setembro, 2016pt_BR
dc.description.abstractDevido à possibilidade de se remover quantidades muito pequenas de material de cada vez, a ablação seletiva por laser tem se mostrado um método muito eficaz para remoção de finas camadas de materiais depositados sobre um substrato. Neste trabalho, um laser de femtossegundo foi utilizado para remoção de um filme fino de nitreto de titânio (TiN) depositado sobre um substrato de carboneto de tungstênio (WC), configuração comum em pastilhas de usinagem mecânica, objetivando fornecer um método eficiente para tal processo. Os limiares de ablação do filme e do substrato foram determinados, evidenciando a problemática do trabalho, remover um filme com limiar maior que o substrato. Um sistema de controle de espectrometria de emissão atômica induzida por laser (LIBS) foi testada, com a intenção de controlar em tempo real, a espécie do material ablacionado, mostrando-se muito eficiente. Os parâmetros do laser bem como da varredura de usinagem ainda estão sendo testados para definir a viabilidade do processo.pt_BR
dc.event.siglaABM; ENEMETpt_BR
dc.identifier.citationOLIVEIRA, EDUARDO S.; SAMAD, RICARDO E.; VIEIRA JUNIOR, NILSON D.; ROSSI, WAGNER de. Ablação seletiva de filme fino de TiN depositado sobre um substrato de WC. In: ABM WEEK; CONGRESSO ANUAL DA ABM, 71.; ENCONTRO NACIONAL DE ESTUDANTES DE ENGENHARIA METALURGICA, DE MATERIAIS E DE MINAS, 16., 26-30 de setembro, 2016, Rio de Janeiro, RJ. <b>Anais...</b> São Paulo: Associação Brasileira de Metalurgia, Materiais e Mineração, 2016. Disponível em: http://repositorio.ipen.br/handle/123456789/27692.
dc.identifier.orcidhttps://orcid.org/0000-0003-1371-7521
dc.identifier.orcidhttps://orcid.org/0000-0003-0092-9357
dc.identifier.orcidhttps://orcid.org/0000-0001-7762-8961
dc.identifier.urihttp://repositorio.ipen.br/handle/123456789/27692
dc.localSão Paulopt_BR
dc.local.eventoRio de Janeiro, RJpt_BR
dc.publisherAssociação Brasileira de Metalurgia, Materiais e Mineraçãopt_BR
dc.rightsopenAccesspt_BR
dc.titleAblação seletiva de filme fino de TiN depositado sobre um substrato de WCpt_BR
dc.typeTexto completo de eventopt_BR
dspace.entity.typePublication
ipen.autorWAGNER DE ROSSI
ipen.autorNILSON DIAS VIEIRA JUNIOR
ipen.autorRICARDO ELGUL SAMAD
ipen.autorEDUARDO SPINELLI OLIVEIRA
ipen.codigoautor73
ipen.codigoautor1582
ipen.codigoautor909
ipen.codigoautor11596
ipen.contributor.ipenauthorWAGNER DE ROSSI
ipen.contributor.ipenauthorNILSON DIAS VIEIRA JUNIOR
ipen.contributor.ipenauthorRICARDO ELGUL SAMAD
ipen.contributor.ipenauthorEDUARDO SPINELLI OLIVEIRA
ipen.date.recebimento17-07pt_BR
ipen.event.datapadronizada2016pt_BR
ipen.identifier.ipendoc23927pt_BR
ipen.notas.internasAnaispt_BR
ipen.type.genreArtigo
relation.isAuthorOfPublication4e856bd3-cb24-4e4f-902b-58fd9ddf811f
relation.isAuthorOfPublicationb5e4f489-bfb7-4e48-ae3a-eced2bb93a16
relation.isAuthorOfPublicationb9c43c0c-87a6-4ebd-92ff-2515c4ac1d34
relation.isAuthorOfPublicationa8f457c4-09cf-4418-9cec-8b977c6434dc
relation.isAuthorOfPublication.latestForDiscoverya8f457c4-09cf-4418-9cec-8b977c6434dc
sigepi.autor.atividadeOLIVEIRA, EDUARDO S.:11596:920:Spt_BR
sigepi.autor.atividadeSAMAD, RICARDO E.:909:930:Npt_BR
sigepi.autor.atividadeVIEIRA JUNIOR, NILSON D.:1582:930:Npt_BR
sigepi.autor.atividadeROSSI, WAGNER DE:73:920:Npt_BR
Pacote Original
Agora exibindo 1 - 1 de 1
Imagem de Miniatura
Nome:
23927.pdf
Tamanho:
783.91 KB
Formato:
Adobe Portable Document Format
Descrição:
Baixar
Licença do Pacote
Agora exibindo 1 - 1 de 1
Nenhuma Miniatura disponível
Nome:
license.txt
Tamanho:
1.71 KB
Formato:
Item-specific license agreed upon to submission
Descrição:
Baixar
Coleções
Eventos