Development of a new methodology of roughness measurement using optical coherence tomography (OCT) according DIN 4768
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2009
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ENCONTRO NACIONAL DE FISICA DA MATERIA CONDENSADA, 32.
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AMARAL, MARCELLO M.; RAELE, MARCUS P.; SAMAD, RICARDO E.; VIEIRA JUNIOR, NILSON D.; FREITAS, ANDERSON Z. de. Development of a new methodology of roughness measurement using optical coherence tomography (OCT) according DIN 4768. In: ENCONTRO NACIONAL DE FISICA DA MATERIA CONDENSADA, 32., 11-15 de maio, 2009, Aguas de Lindoia, SP. Resumo... Disponível em: http://repositorio.ipen.br/handle/123456789/19329. Acesso em: 04 Jun 2024.
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