Rietveld refinement of Nd and Pr doped BaYsub(2)Fsub(8) single crystals employing neutron powder diffraction patterns
Carregando...
Data
Data de publicação:
2008
Orientador
Título da Revista
ISSN da Revista
Título do Volume
É parte de
É parte de
É parte de
É parte de
INTERNATIONAL CONFERENCE ON DEFECTS IN INSULATING MATERIALS, 16th
Exportar
Como referenciar
MAZZOCCHI, V.L.; MESTNIK FILHO, J.; PARENTE, C.B.R.; CRUZ, S.F.A.; BALDOCHI, S.L. Rietveld refinement of Nd and Pr doped BaYsub(2)Fsub(8) single crystals employing neutron powder diffraction patterns. In: INTERNATIONAL CONFERENCE ON DEFECTS IN INSULATING MATERIALS, 16th, August 24-29, 2008, Aracaju, SE. Abstract... Disponível em: http://repositorio.ipen.br/handle/123456789/22356. Acesso em: 12 May 2024.
Esta referência é gerada automaticamente de acordo com as normas do estilo IPEN/SP (ABNT NBR 6023) e recomenda-se uma verificação final e ajustes caso necessário.