Estudos do desenvolvimento e caracterização das ligas Cu-Ni-Pt e Cu-Ni-Sn para fins eletro-eletrônicos

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dc.contributor.advisorWaldemar Alfredo Monteiropt_BR
dc.contributor.authorSILVA, LUIS C.E. dapt_BR
dc.coverageNacionalpt_BR
dc.date.accessioned2014-10-09T12:52:22Zpt_BR
dc.date.accessioned2014-10-09T14:00:47Z
dc.date.available2014-10-09T12:52:22Zpt_BR
dc.date.available2014-10-09T14:00:47Z
dc.date.issued2006pt_BR
dc.description.abstractO Cu e suas ligas têm diferentes aplicações na sociedade moderna devido as excelentes propriedades elétricas, condutividade térmica, resistência à corrosão dentre outras propriedades. Estas aplicações podem ser em válvulas, tubulações, panelas para absorção de energia solar, radiadores para automóveis, condutores de corrente e eletrônico, elementos de termostatos e partes estruturais de reatores nucleares, como, por exemplo, bobinas para campo toroidal para um reator de fusão nuclear. Dentre as ligas utilizadas em reatores nucleares, podemos destacar Cu-Be, Cu-Sn e Cu-Pt. O Ni e o Co, freqüentemente são adicionados às ligas de Cu para que a solubilidade seja deslocada para temperaturas mais elevadas com relação aos sistemas binários de Cu-Sn e Cu-Pt. A adição de Ni-Pt ou Ni-Sn ao Cu em porcentagens iguais ou inferiores a 1,5 % aliado a tratamentos termos-mecânico alteram as propriedades do Cu. Estudamos neste trabalho sete diferentes ligas: três ligas de Cu-Ni-Pt 1 (97,99 % Cu - 1,55 % Ni - 0,46 % Pt), 2 (99,33 % Cu - 0,23 % Ni -0,43 % Pt) 3 (98,01 % Cu - 0,48 % Ni - 1,51 % Pt); três ligas de Cu-Ni-Sn 4 (98,31% Cu - 1,12 % Ni - 0,58 % Sn), 5 (98,79 % Cu – 0,57 % Ni - 0,65 % Sn), 6 (98,39% Cu – 0,46 % Ni – 1,16 % Sn) e Cu eletrolítico 0 (0,0058 % Pb - 0,0007 % Fe - 0,0036 % Ni - 0,0024 % Ag). As referentes ligas foram desenvolvidas a partir de um forno a arco voltaico e passaram por tratamentos termo-mecânicos pré-determinados. As microestruturas foram analisadas diretamente por microscopia óptica e microscopia eletrônica de varredura / EDS e indiretamente por medidas de dureza Vickers e condutividade elétrica. O objetivo deste trabalho, portanto, foi observar e constatar os efeitos da mudança da microestrutura em relação às propriedades dureza e condutividade elétrica.pt_BR
dc.description.notasgeraisDissertacao (Mestrado)pt_BR
dc.description.notasteseIPEN/Dpt_BR
dc.description.teseinstituicaoInstituto de Pesquisas Energeticas e Nucleares - IPEN/CNEN-SPpt_BR
dc.identifier.citationSILVA, LUIS C.E. da. <b>Estudos do desenvolvimento e caracterização das ligas Cu-Ni-Pt e Cu-Ni-Sn para fins eletro-eletrônicos</b>. Orientador: Waldemar Alfredo Monteiro. 2006. Dissertacao (Mestrado) - Instituto de Pesquisas Energeticas e Nucleares - IPEN/CNEN-SP, Sao Paulo. DOI: <a href="https://dx.doi.org/10.11606/D.85.2006.tde-31052007-153314">10.11606/D.85.2006.tde-31052007-153314</a>. Disponível em: http://repositorio.ipen.br/handle/123456789/11480.
dc.identifier.doi10.11606/D.85.2006.tde-31052007-153314
dc.identifier.urihttp://repositorio.ipen.br/handle/123456789/11480pt_BR
dc.localSao Paulopt_BR
dc.rightsopenAccesspt_BR
dc.subjectcopper alloyspt_BR
dc.subjectelectric conductivitypt_BR
dc.subjectvickers hardnesspt_BR
dc.subjectthermomechanical treatmentspt_BR
dc.subjectoptical microscopypt_BR
dc.subjectscanning electron microscopypt_BR
dc.titleEstudos do desenvolvimento e caracterização das ligas Cu-Ni-Pt e Cu-Ni-Sn para fins eletro-eletrônicospt_BR
dc.typeDissertaçãopt_BR
dspace.entity.typePublication
ipen.autorLUIS CARLOS ELIAS DA SILVA
ipen.codigoautor807
ipen.contributor.ipenauthorLUIS CARLOS ELIAS DA SILVA
ipen.date.recebimento06-12pt_BR
ipen.identifier.ipendoc11583pt_BR
ipen.identifier.localizacaoT669.35 / S586ept_BR
ipen.meioeletronicohttp://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/85/85134/tde-31052007-153314/pt_BR
ipen.type.genreDissertação
relation.isAuthorOfPublication5ce06946-6a4a-4f65-a3e5-6d463554bcc5
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sigepi.autor.atividadeSILVA, LUIS C.E. DA:807:32:Spt_BR
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