Análise de concentração de Cu, Zn e Cd em maquiagem para olhos EDXRF

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dc.contributor.authorBATISTA, A.D.pt_BR
dc.contributor.authorTOLINI, B.B.pt_BR
dc.contributor.authorSCAPIN, M.A.pt_BR
dc.contributor.authorAQUINO, R.R.pt_BR
dc.coverageNacionalpt_BR
dc.creator.eventoCONGRESSO BRASILEIRO DE TOXICOLOGIA, 18.pt_BR
dc.date.accessioned2014-11-19T10:57:53Zpt_BR
dc.date.accessioned2014-11-19T14:05:46Zpt_BR
dc.date.accessioned2015-04-01T12:46:00Z
dc.date.available2014-11-19T10:57:53Zpt_BR
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dc.date.available2015-04-01T12:46:00Z
dc.date.evento7-10 de outubro, 2013pt_BR
dc.identifier.citationBATISTA, A.D.; TOLINI, B.B.; SCAPIN, M.A.; AQUINO, R.R. Análise de concentração de Cu, Zn e Cd em maquiagem para olhos EDXRF. In: CONGRESSO BRASILEIRO DE TOXICOLOGIA, 18., 7-10 de outubro, 2013, Porto Alegre, RS. <b>Resumo...</b> Disponível em: http://repositorio.ipen.br/handle/123456789/20313.
dc.identifier.orcidhttps://orcid.org/0000-0002-0606-4369
dc.identifier.urihttp://repositorio.ipen.br/handle/123456789/20313pt_BR
dc.local.eventoPorto Alegre, RSpt_BR
dc.rightsopenAccesspt_BR
dc.subjectconsumer productspt_BR
dc.subjecteyespt_BR
dc.subjectsample preparationpt_BR
dc.subjectcopperpt_BR
dc.subjectzincpt_BR
dc.subjectcadmiumpt_BR
dc.subjectx-ray fluorescence analysispt_BR
dc.titleAnálise de concentração de Cu, Zn e Cd em maquiagem para olhos EDXRFpt_BR
dc.typeResumo de eventos científicospt_BR
dspace.entity.typePublication
ipen.autorREGINALDO RIBEIRO DE AQUINO
ipen.autorMARCOS ANTONIO SCAPIN
ipen.codigoautor7571
ipen.codigoautor836
ipen.contributor.ipenauthorREGINALDO RIBEIRO DE AQUINO
ipen.contributor.ipenauthorMARCOS ANTONIO SCAPIN
ipen.date.recebimento14-01pt_BR
ipen.event.datapadronizada2013pt_BR
ipen.identifier.ipendoc19804pt_BR
ipen.notas.internasResumopt_BR
ipen.type.genreResumo
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relation.isAuthorOfPublicationa95b0a15-62ca-4080-a98a-c8a63c940bc1
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sigepi.autor.atividadeBATISTA, A.D.:-1:-1:Spt_BR
sigepi.autor.atividadeTOLINI, B.B.:-1:-1:Npt_BR
sigepi.autor.atividadeSCAPIN, M.A.:836:510:Npt_BR
sigepi.autor.atividadeAQUINO, R.R.:7571:330:Npt_BR
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