Statistical analysis of the doppler broadening coincidence spectrum of electron-positron annihilation radiation in silicon
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2009
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Nuclear Instruments and Methods in Physics Research
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NASCIMENTO, E. do; HELENE, O.; VANIN, V.R.; CRUZ, M.T.F. da; MORALLES, M. Statistical analysis of the doppler broadening coincidence spectrum of electron-positron annihilation radiation in silicon. Nuclear Instruments and Methods in Physics Research, v. 609, n. 2-3, p. 244-249, 2009. Section A. Disponível em: http://repositorio.ipen.br/handle/123456789/4779. Acesso em: 26 Apr 2024.
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