Aplicacao do metodo de analise por ativacao a determinacao de impurezas em oxidos de terras raras produzidos no IPEN-CNEN/SP

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1988
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2o. CGEN
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SAIKI, M.; LELLIS, L.O. Aplicacao do metodo de analise por ativacao a determinacao de impurezas em oxidos de terras raras produzidos no IPEN-CNEN/SP. In: 2o. CGEN, 23-26 de abril, 1988, Rio de Janeiro, RJ. Disponível em: http://repositorio.ipen.br/handle/123456789/13037. Acesso em: 17 Mar 2025.
Esta referência é gerada automaticamente de acordo com as normas do estilo IPEN/SP (ABNT NBR 6023) e recomenda-se uma verificação final e ajustes caso necessário.

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Keywords
neutron activation analysis; rare earths; oxides; impurities; ge semiconductor detectors
URI
http://repositorio.ipen.br/handle/123456789/13037
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