Influence of the dead-zone thickness on a PIN diode response for alfa spectrometry
Carregando...
Data
Data de publicação:
2007
Orientador
Título da Revista
ISSN da Revista
Título do Volume
É parte de
É parte de
É parte de
É parte de
INTERNATIONAL NUCLEAR ATLANTIC CONFERENCE; MEETING ON NUCLEAR APPLICATIONS, 8th/ MEETING ON REACTOR PHYSICS AND THERMAL HYDRAULICS, 15th
Exportar
Como referenciar
PASCOALINO, KELLY C.S.; CAMARGO, FABIO de; GONCALVES, JOSEMARY A.C.; BUENO, CARMEN C. Influence of the dead-zone thickness on a PIN diode response for alfa spectrometry. In: INTERNATIONAL NUCLEAR ATLANTIC CONFERENCE; MEETING ON NUCLEAR APPLICATIONS, 8th/ MEETING ON REACTOR PHYSICS AND THERMAL HYDRAULICS, 15th, Sept. 30 - Oct. 5, 2007, Santos, SP. Proceedings... Disponível em: http://repositorio.ipen.br/handle/123456789/15755. Acesso em: 19 Feb 2025.
Esta referência é gerada automaticamente de acordo com as normas do estilo IPEN/SP (ABNT NBR 6023) e recomenda-se uma verificação final e ajustes caso necessário.