Estudo da evolucao da textura da microtextura e da mesotextura de recristalizacao apos baixo grau de deformacao a frio em aco eletrico com 2 porcento Si

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2004
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CONGRESSO BRASILEIRO DE ENGENHARIA E CIENCIA DOS MATERIAIS, 16.
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Neste trabalho estudou-se a evolução da textura, da microtextura e da mesotextura de recristalização após baixos graus de deformação a frio em aço baixo carbono com 2% de silício, de grão não orientado, para a fabricação de motores. Os materiais utilizados para este fim sofrem um processo de laminação com baixo grau de encruamento, objetivando condicionar a microestrutura a um crescimento anormal de grãos. As técnicas utilizadas, neste estudo, foram a difração de raios X e a difração de elétrons retroespalhados (EBSD). As análises foram realizadas por meio da função de distribuição de orientações (FDO), relação de coincidência de sítios de rede (CSL) e mapas de contornos de ângulo. Os resultados mostram que a cinética de crescimento do grão é proporcional ao tempo de tratamento térmico. A análise da textura por difração de raios X mostra que os estágios iniciais de crescimento dos grãos são acompanhados da diminuição da orientação (011)<100>. Para as amostras do material com tamanho de grão maior, as análises por EBSD apresentaram, como resultado, uma distribuição aleatória de orientações. Constatou-se, também, que o crescimento anormal dos grãos ocorre da superfície para o centro da amostra. A técnica de EBSD é adequada para determinar as orientações entre regiões delimitadas por contornos de baixo ângulo. Nos mapas de contornos de grãos observa-se que a densidade de subcontornos varia da superfície para o centro. A principal conseqüência no material que sofreu tratamento térmico após processo de laminação com redução em espessura de aproximadamente 9%, é que, a recuperação leva à diminuição da densidade de discordâncias dentro dos grãos e à formação de subcontornos, com relação de orientação em torno de 1o a 2o . Além disso, a relação de orientação predominante entre os contornos de alto ângulo, observada na microestrutura totalmente recristalizada, é S3.

Como referenciar
LIMA, L.M.F.G.; AGUIAR, A.A.; LIMA, N.B.; PADILHA, A.F. Estudo da evolucao da textura da microtextura e da mesotextura de recristalizacao apos baixo grau de deformacao a frio em aco eletrico com 2 porcento Si. In: CONGRESSO BRASILEIRO DE ENGENHARIA E CIENCIA DOS MATERIAIS, 16., 28 nov. - 02 dez, 2004, Porto Alegre, RS. Anais... Disponível em: http://repositorio.ipen.br/handle/123456789/17448. Acesso em: 19 Mar 2025.
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