Short-term repeatability of a rad-hard EPI diode applied in electron processing dosimetry
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2011
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IEEE NUCLEAR SCIENCE SYMPOSIUM CONFERENCE RECORD; MEDICAL IMAGING CONFERENCE
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SANTOS, THAIS C. dos; GONCALVES, JOSEMARY A.C.; PINTILIE, IOANA; BUENO, C.C. Short-term repeatability of a rad-hard EPI diode applied in electron processing dosimetry. In: IEEE NUCLEAR SCIENCE SYMPOSIUM CONFERENCE RECORD; MEDICAL IMAGING CONFERENCE, October 23-29, 2011, Valencia, Espanha. Proceedings... p. 233-236. DOI: 10.1109/NSSMIC.2011.6154486. Disponível em: http://repositorio.ipen.br/handle/123456789/18049. Acesso em: 24 Apr 2024.
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