A importância da metrologia na análise forense ambiental
Carregando...
Data
Data de publicação:
2017
Autores IPEN
Orientador
Título da Revista
ISSN da Revista
Título do Volume
É parte de
É parte de
É parte de
É parte de
CONGRESSO BRASILEIRO DE METROLOGIA, 9.; CONGRESSO INTERNACIONAL DE METROLOGIA MECANICA, 4.; CONGRESSO INTERNACIONAL DE METROLOGIA ELETRICA, 12.; CONGRESSO BRASILEIRO DE METROLOGIA DAS RADIAÇOES IONIZANTES, 4.; WORKSHOP DA REDE DE METROLOGIA QUIMICA DO INMETRO, 3.; CONGRESSO BRASILEIRO DE METROLOGIA OPTICA, 2.
Exportar
Como referenciar
BARBIERI, CRISTINA B.; SARKIS, JORGE E. de S. A importância da metrologia na análise forense ambiental: aplicação do ensaio duplicado para estimativa de incerteza de amostragem. In: CONGRESSO BRASILEIRO DE METROLOGIA, 9.; CONGRESSO INTERNACIONAL DE METROLOGIA MECANICA, 4.; CONGRESSO INTERNACIONAL DE METROLOGIA ELETRICA, 12.; CONGRESSO BRASILEIRO DE METROLOGIA DAS RADIAÇOES IONIZANTES, 4.; WORKSHOP DA REDE DE METROLOGIA QUIMICA DO INMETRO, 3.; CONGRESSO BRASILEIRO DE METROLOGIA OPTICA, 2., 26-29 de novembro, 2017, Fortaleza, CE. Resumo... Rio de Janeiro, RJ: Sociedade Brasileira de Metrologia, 2017. p. 65-65. Disponível em: http://repositorio.ipen.br/handle/123456789/28633. Acesso em: 08 May 2024.
Esta referência é gerada automaticamente de acordo com as normas do estilo IPEN/SP (ABNT NBR 6023) e recomenda-se uma verificação final e ajustes caso necessário.