Evaluation of microscopic parameters for ETU process in diode-pumped Nd:YLF
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Data
1999
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Radiation Effects and Defects in Solids
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COURROL, L.C.; GOMES, L.; RANIERI, I.M. Evaluation of microscopic parameters for ETU process in diode-pumped Nd:YLF. Radiation Effects and Defects in Solids, v. 149, p. 369-374, 1999. Disponível em: http://repositorio.ipen.br/handle/123456789/6280. Acesso em: 26 Apr 2024.
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