Scanning electron microscopy (SEM) and optical microscopy: effects of Er:EAG and Nd:YAG lasers on apical seals after apicoectomy and retrofill
Carregando...
Data
2004
Data de publicação:
Orientador
Título da Revista
ISSN da Revista
Título do Volume
É parte de
É parte de
É parte de
Photomedicine and Laser Surgery
Exportar
Como referenciar
OLIVEIRA, R.G.; GOUW SOARES, S.; BALDOCHI, S.L.; EDUARDO, C.P. Scanning electron microscopy (SEM) and optical microscopy: effects of Er:EAG and Nd:YAG lasers on apical seals after apicoectomy and retrofill. Photomedicine and Laser Surgery, v. 22, n. 6, p. 533-536, 2004. Disponível em: http://repositorio.ipen.br/handle/123456789/7910. Acesso em: 13 Feb 2025.
Esta referência é gerada automaticamente de acordo com as normas do estilo IPEN/SP (ABNT NBR 6023) e recomenda-se uma verificação final e ajustes caso necessário.