Evaluation of microscopic parameters for ETU process in diode-pumped Nd:YLF
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1998
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8th EUROPHYSICAL CONFERENCE ON DEFECTS IN INSULATING MATERIALS
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COURROL, L.C.; GOMES, L.; RANIERI, I.M. Evaluation of microscopic parameters for ETU process in diode-pumped Nd:YLF. In: 8th EUROPHYSICAL CONFERENCE ON DEFECTS IN INSULATING MATERIALS, July 6-11, 1998, Keele, Staffs, UK. Proceedings... Disponível em: http://repositorio.ipen.br/handle/123456789/15639. Acesso em: 30 Dec 2025.
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