Size-strain analysis in RE-doped KY3F10 fluorides using X-ray line profile analysis
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2014
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WORKSHOP OF APPLIED CRYSTALLOGRAPHY TO MATERIALS SCIENCE AND ENGINEERING, 4th
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ICHIKAWA, R.U.; MARTINEZ, L.G.; IMAKUMA, K.; LINHARES, H.M.S.M.D.; RANIERI, I.M.; TURRILLAS, X. Size-strain analysis in RE-doped KY3F10 fluorides using X-ray line profile analysis. In: WORKSHOP OF APPLIED CRYSTALLOGRAPHY TO MATERIALS SCIENCE AND ENGINEERING, 4th, May 23-25, 2014, Vitoria, ES. Anais... Disponível em: http://repositorio.ipen.br/handle/123456789/23729. Acesso em: 30 Dec 2025.
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