Analise pelo metodo de Rietveld de fluoretos laser ativos em diferentes temperaturas

dc.contributor.authorMAZZOCCHI, V.L.pt_BR
dc.contributor.authorBALDOCHI, S.L.pt_BR
dc.contributor.authorPARENTE, C.B.R.pt_BR
dc.contributor.authorSANTILLI, C.V.pt_BR
dc.contributor.authorPAIVA SANTOS, C.O.pt_BR
dc.contributor.authorSHIMAMURA, K.pt_BR
dc.contributor.authorFUKUDA, Tpt_BR
dc.contributor.editorKIMINAMI, C.S.pt_BR
dc.contributor.editorEIRAS, J.A.pt_BR
dc.contributor.editorPESSAN, L.A.pt_BR
dc.contributor.editorTOMASI, R.pt_BR
dc.coverageNacionalpt_BR
dc.creator.eventoCONGRESSO BRASILEIRO DE ENGENHARIA E CIENCIA DOS MATERIAIS, 14.pt_BR
dc.date.accessioned2014-11-17T17:19:05Zpt_BR
dc.date.accessioned2014-11-18T17:09:40Zpt_BR
dc.date.accessioned2015-04-02T01:45:59Z
dc.date.available2014-11-17T17:19:05Zpt_BR
dc.date.available2014-11-18T17:09:40Zpt_BR
dc.date.available2015-04-02T01:45:59Z
dc.date.evento3-6 dez, 2000pt_BR
dc.event.siglaCBECIMAT,14pt_BR
dc.format.extent1701-1708pt_BR
dc.identifier.citationMAZZOCCHI, V.L.; BALDOCHI, S.L.; PARENTE, C.B.R.; SANTILLI, C.V.; PAIVA SANTOS, C.O.; SHIMAMURA, K.; FUKUDA, T. Analise pelo metodo de Rietveld de fluoretos laser ativos em diferentes temperaturas. In: KIMINAMI, C.S. (ed.); EIRAS, J.A. (ed.); PESSAN, L.A. (ed.); TOMASI, R. (ed.). In: CONGRESSO BRASILEIRO DE ENGENHARIA E CIENCIA DOS MATERIAIS, 14., 3-6 dez, 2000, Sao Pedro, SP. <b>Anais...</b> p. 1701-1708. Disponível em: http://repositorio.ipen.br/handle/123456789/13402.
dc.identifier.urihttp://repositorio.ipen.br/handle/123456789/13402pt_BR
dc.local.eventoSao Pedro, SPpt_BR
dc.publisherSao Carlos: UFSCar, 2000pt_BR
dc.rightsopenAccess
dc.subjectlattice parameterspt_BR
dc.subjecttemperature dependencept_BR
dc.subjectlithium fluoridespt_BR
dc.subjectstrontium fluoridespt_BR
dc.subjectaluminium fluoridespt_BR
dc.subjectcalcium fluoridespt_BR
dc.subjectcrystalspt_BR
dc.subjectcrystal dopingpt_BR
dc.subjectchromiumpt_BR
dc.subjectsodiumpt_BR
dc.subjectceriumpt_BR
dc.subjectx-ray diffractionpt_BR
dc.subjectlaser materialspt_BR
dc.titleAnalise pelo metodo de Rietveld de fluoretos laser ativos em diferentes temperaturaspt_BR
dc.typeTexto completo de eventopt_BR
dspace.entity.typePublication
ipen.autorCARLOS DE OLIVEIRA PAIVA-SANTOS
ipen.autorCARLOS BENEDICTO RAMOS PARENTE
ipen.autorSONIA LICIA BALDOCHI
ipen.autorVERA LUCIA MAZZOCCHI
ipen.codigoautor6142
ipen.codigoautor370
ipen.codigoautor702
ipen.codigoautor52
ipen.contributor.ipenauthorCARLOS DE OLIVEIRA PAIVA-SANTOS
ipen.contributor.ipenauthorCARLOS BENEDICTO RAMOS PARENTE
ipen.contributor.ipenauthorSONIA LICIA BALDOCHI
ipen.contributor.ipenauthorVERA LUCIA MAZZOCCHI
ipen.date.recebimento02-08pt_BR
ipen.event.datapadronizada2000pt_BR
ipen.identifier.ipendoc07464pt_BR
ipen.notas.internasAnaispt_BR
ipen.type.genreArtigo
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relation.isAuthorOfPublication.latestForDiscovery3d27ef8f-9468-4483-a21e-3790f370a01c
sigepi.autor.atividadeMAZZOCCHI, V.L.:52:-1:Spt_BR
sigepi.autor.atividadeBALDOCHI, S.L.:702:-1:Npt_BR
sigepi.autor.atividadePARENTE, C.B.R.:370:-1:Npt_BR
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sigepi.autor.atividadePAIVA SANTOS, C.O.:6142:-1:Npt_BR
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