Avaliacao da influencia das propriedades e geometria da amostra em espectrometria de raios gama

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dc.contributor.authorVAZ, A.C.A.pt_BR
dc.contributor.authorSAIKI, M.pt_BR
dc.coverageInternacionalpt_BR
dc.creator.eventoINTERNATIONAL NUCLEAR ATLANTIC CONFERENCE; NATIONAL MEETING ON NUCLEAR APPLICATIONS, 6thpt_BR
dc.date.accessioned2014-11-17T18:26:42Zpt_BR
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dc.date.eventoAug. 11-16, 2002pt_BR
dc.event.siglaINAC 2002;ENAN,6pt_BR
dc.identifier.citationVAZ, A.C.A.; SAIKI, M. Avaliacao da influencia das propriedades e geometria da amostra em espectrometria de raios gama. In: INTERNATIONAL NUCLEAR ATLANTIC CONFERENCE; NATIONAL MEETING ON NUCLEAR APPLICATIONS, 6th, Aug. 11-16, 2002, Rio de Janeiro, RJ. <b>Proceedings...</b> Disponível em: http://repositorio.ipen.br/handle/123456789/17035.
dc.identifier.urihttp://repositorio.ipen.br/handle/123456789/17035pt_BR
dc.local.eventoRio de Janeiro, RJpt_BR
dc.publisherRio de Janeiro: ABEN, 2002pt_BR
dc.rightsopenAccesspt_BR
dc.subjectgamma spectroscopypt_BR
dc.subjecterrorspt_BR
dc.subjectsample preparationpt_BR
dc.subjectgeometrypt_BR
dc.subjectdead timept_BR
dc.titleAvaliacao da influencia das propriedades e geometria da amostra em espectrometria de raios gamapt_BR
dc.typeTexto completo de eventopt_BR
dspace.entity.typePublication
ipen.autorMITIKO SAIKI
ipen.autorANTONIO CARLOS ALVES VAZ
ipen.codigoautor1178
ipen.codigoautor526
ipen.contributor.ipenauthorMITIKO SAIKI
ipen.contributor.ipenauthorANTONIO CARLOS ALVES VAZ
ipen.date.recebimento03-03pt_BR
ipen.event.datapadronizada2002pt_BR
ipen.identifier.ipendoc08764pt_BR
ipen.notas.internasProceedingspt_BR
ipen.type.genreArtigo
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relation.isAuthorOfPublication.latestForDiscovery7ebd98d2-7d0d-4f57-87b6-c4ec6ba92ee9
sigepi.autor.atividadeVAZ, A.C.A.:526:-1:Spt_BR
sigepi.autor.atividadeSAIKI, M.:1178:7:Npt_BR
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