Influencia da microestrutura na propriedade eletricas de ligas Al-Mg-Th e Al-Mg-Nb

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dc.contributor.authorALMEIDA FILHO, A. dept_BR
dc.contributor.authorBUSO, S.J.pt_BR
dc.contributor.authorMONTEIRO, W.A.pt_BR
dc.coverageNacionalpt_BR
dc.creator.eventoCONGRESSO BRASILEIRO DE ENGENHARIA E CIENCIA DOS MATERIAIS, 19.pt_BR
dc.date.accessioned2014-11-17T18:39:43Zpt_BR
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dc.date.available2015-04-02T06:47:33Z
dc.date.evento21-25 de novembro, 2010pt_BR
dc.event.siglaCBECIMATpt_BR
dc.format.extent5001-5007pt_BR
dc.identifier.citationALMEIDA FILHO, A. de; BUSO, S.J.; MONTEIRO, W.A. Influencia da microestrutura na propriedade eletricas de ligas Al-Mg-Th e Al-Mg-Nb. In: CONGRESSO BRASILEIRO DE ENGENHARIA E CIENCIA DOS MATERIAIS, 19., 21-25 de novembro, 2010, Campos do Jordao, SP. <b>Anais...</b> p. 5001-5007. Disponível em: http://repositorio.ipen.br/handle/123456789/17910.
dc.identifier.urihttp://repositorio.ipen.br/handle/123456789/17910pt_BR
dc.local.eventoCampos do Jordao, SPpt_BR
dc.rightsopenAccesspt_BR
dc.subjectaluminium alloyspt_BR
dc.subjectmicrostructurept_BR
dc.subjectelectric conductivitypt_BR
dc.titleInfluencia da microestrutura na propriedade eletricas de ligas Al-Mg-Th e Al-Mg-Nbpt_BR
dc.typeTexto completo de eventopt_BR
dspace.entity.typePublication
ipen.autorWALDEMAR ALFREDO MONTEIRO
ipen.autorSIDNEI JOSE BUSO
ipen.autorAMERICO DE ALMEIDA FILHO
ipen.codigoautor982
ipen.codigoautor2375
ipen.codigoautor2369
ipen.contributor.ipenauthorWALDEMAR ALFREDO MONTEIRO
ipen.contributor.ipenauthorSIDNEI JOSE BUSO
ipen.contributor.ipenauthorAMERICO DE ALMEIDA FILHO
ipen.date.recebimento10-12pt_BR
ipen.event.datapadronizada2010pt_BR
ipen.identifier.ipendoc15867pt_BR
ipen.notas.internasAnaispt_BR
ipen.type.genreArtigo
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sigepi.autor.atividadeALMEIDA FILHO, A. DE:2369:-1:Spt_BR
sigepi.autor.atividadeBUSO, S.J.:2375:730:Npt_BR
sigepi.autor.atividadeMONTEIRO, W.A.:982:730:Npt_BR

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